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太陽能反射式效率量測儀 D8-6 專為太陽能單晶硅、多晶硅電池片量測開發(fā)(自動量測設(shè)備) ❖With or without texture
❖量測時間單點<0.2S,精確度高
❖重復性(STD 10次 1 Sigma):< 0.05 %
❖反射率測量范圍:0-100% ❖標準片具有特殊表面粗糙度處理 ❖適用于表面粗糙度大的Sample ❖電動XY平移臺,可自動選擇量測位置 ❖量測Solar Cell反射率,抗反射層(減返層)膜厚,量測時間1-3S ❖軟件可分為Engineer Mode&Operator Mode適合在線檢測 ❖載臺具有抗酸堿腐蝕之能力(適用于制絨過程之監(jiān)控)-Option ❖花籃選配(Cassette Loading-Option) |